химический каталог




Радиоизотопные и рентгеноспектральные методы

Автор Н.Н.Шумиловский, Ю.П.Бетин, Б.И.Верховский

оверхностная плотность образца т0 мала, т. е. мы имеем «тонкий» образец, то выражение (8-1) для /2 может быть заменено приближенной формулой:

Таким образом, в «толстых» образцах нарушается линейная зависимость между J2 и СА. Однако при малых СА, а также во всех случаях, когда можно пренебречь членом аСА в знаменателе выражения (8-3), зависимость /2 от СА может быть выражена формулой

(8-4)

J2~km0CA,

т. е. имеет место прямая пропорциональность между интенсивностью аналитической линии /г и концентрацией определяемого элемента СА, причем коэффициент пропорциональности от элементного состава пробы не зависит.

Замена выражения (8-1) выражением (8-й) возможна в том случае, если при пользовании приближенной формулой е~х~\—х погрешность не превзойдет допустимой. Например, если х< 0,134, то погрешность этой формулы не превосходит 1%. При допустимой .погрешности в 1% максимальная поверхностная плотность т0 будет равна tn0=0,\M/(aH+aCA).

Практически изготовить «тонкие» образцы одинаковой «толщины» весьма трудно. (Кроме того, при низких 150 т. е. тоже оказывается линейной, но коэффициент пропорциональности в этом случае уже будет зависеть от состава наполнителя (ан).

Расчет и эксперимент показывают, что на характер зависимости /г от СА сильно ;влияет состав наполнителя в тех случаях, когда он состоит из элементов, атомные номера которых значительно отличаются от атомного номера определяемого элемента. На рис. 8-2 показан характер этой зависимости для случаев, когда атомные номера элементов наполнителя значительно меньше (кривая 2) и значительно больше (кривая 3) атомного номера определяемого элемента.

В этой связи при проведении анализов обычно пользуются методами внешнего или внутреннего стандарта.

При анализах по методу внешнего стандарта приготовляются искусственные наборы стандартных образцов с различными концентрациями каждого из опреде151

ляемых элементов и с наполнителем по возможности того же состава, что и в анализируемом образце. При этом особое внимание обращается на идентичнаполнитель, состав которого меняется в широких пределах.В этом случае измеряют относительную интенсивность этих двух близких линий, и результат анализа мало зависит от состава наполнителя. Однако метод внутреннего стандарта требует значительного времени на проведение анализа, обычно связанного с кропотливой и трудоемкой предварительной проболодготовкой каждого анализируемого образца.

Рентгеноспектральный анализ значительно усложняется при наличии в лробе мешающих элементов.

При наличии одного мешающего элемента М пробу можно рассматривать как тройную смесь, состоящую из анализируемого элемента А, мешающего элемента М, избирательно поглощающего аналитическую линию определямого элемента, и наполнителя Я, не содержащего мешающих элементов. Для этого случая теория [Л. 129] дает следующее выражение для интенсивности аналитической линии J% в присутствии мешающего эленость физического состояния, плотности и структуры стандартного и анализируемого образцов, поскольку, например, интенсивность аналитической линии меди у образца из литой полированной латуни почти в 2 раза превосходит интенсивность той же линии у образца из опилок той же латуни.

По данным измерений интенсивности аналитических линий набора стандартных образцов строятся градуиро-вочные графики, которыми и пользуются при анализах.

Для снижения аппаратурных погрешностей, связанных с нестабильностью работы аппаратуры, замеры на стандартных образцах время от времени повторяют, проверяя градуировочные графики.'В описанном выше методе парного канала такая проверка происходит автоматически.

Метод внутреннего стандарта, основанный на введении в анализируемую пробу другого элемента с аналитической линией, близкой к определяемой, применяется в том случае, когда анализируемые образцы имеют

аН+аСА + а'СЛ

(8-5)

ft

где

Сч

sin f ' sin ф '

ц!" и (ij —линейные коэффициенты ослабления первичного излучения и линии i в мешающем элементе;

т — поверхностная плотность тройной смеси.

Остальные обозначения в выражении (8-5) те же, что и в выражении (8-1) для бинарной смеси.

Для того чтобы оценить, во сколько раз уменьшается интенсивность аналитической линии из-за присутствия в пробе элемента М, составим отношение /3 к J2 , разделив (8-1) на (8-5):

153

a/f + aCA I1— exP I— (aH + aCA + а'См) m\

iM J2

(8-6)7)

Для тонких образцов, упрощая выражение (8-5), как это делалось для (8-1), получим для отношения /2//f следующее выражение:

аН+«СА 1 (аН + аСА+а'См)т

Таким образом, если поверхностные плотности тонких образцов, содержащих и не содержащих мешающий элемент, равны, то интенсивность аналитической линии J2 оказывается .равной /2. Согласно (8-7) для тонких образцов интенсивность аналитической линии не зависит от концентрации мешающего элемента СМ.

Для толстых образцов, пренебрегая в (8-5) экспонентами, получаем выражение

J2

'2

(8-9)

При этом относительное изменение интенсивности, вызванное мешающим элементом, равно:

*

страница 45
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60

Скачать книгу "Радиоизотопные и рентгеноспектральные методы" (1.41Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
купить газовый котел ферроли
сколько стоит выправление вмятины на крыле в арзамасе
хорошее моноколесо
узи предстательной

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(08.12.2016)