химический каталог




Экспериментальные методы в химии полимеров. Часть 2

Автор Я.Рабек

оны экрана электроннолучевой трубки к соответствующему параметру сканированной части

Пучок первичных жшроноз

Рис. 27.14. Данные, которые можно получить методом СЭМ при бомбардировке образца пучком электронов [О: 66].

поверхности образца. Большинство сканирующих электронных микроскопов дают увеличение в 20—100 000 раз, при этом наиболее оптимальным рабочим увеличением, зависящим от типа исследуемого образца и конструкции прибора, является интервал от 20000 до 50 000. При низких увеличениях можно легко проводить ориентацию образца в нужных направлениях.

Разрешение микроскопа зависит от толщины пучка электронов и' площади образца, испускающей вторичные электроны. У промышленных приборов разрешение составляет 6—10 нм (60—100 А).

Фокусное расстояние, или главная плоскость (AF), сканирующего электронного микроскопа составляет

Д^=±|. (27 А)

112

Глава 27

Электронная микроскопия

113

где d — разрешение электронной оптической системы, 2а — угол апертуры. Как правило, фокусное расстояние в 300—600 раз больше, чем в оптическом микроскопе. Благодаря большому фокусному расстоянию и большой подвижности столика с образцом возможно получение трехмерного изображения.

Обзорная литература: 66, 163, 309, 593, 598, 983, 1294. Периодическая литература: 4558.

27.9. ПРЕПАРИРОВАНИЕ ОБРАЗЦОВ

ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

Если исследуемый образец не является хорошим проводником, ег^ нужно покрывать тонким слоем (100—500 А) проводящего материала (золото, серебро, углерод или смесь золота с палладием).

Такое покрытие напыляют, помещая образец в высоковакуумный испаритель, в котором испаряют соответствующий металл, который нагревается в вольфрамовой чашечке. Во избежание накопления статического заряда образец можно покрыть раствором органического антистатика.

27.10. ПОВЫШЕНИЕ

КОНТРАСТНОСТИ С ПОМОЩЬЮ КАНАЛОВЫХ ЭЛЕКТРОНОВ

Проникающие в кристалл электроны проходят через него по определенным направлениям (рис. 27.15). В этих направлениях часть электронов, не превышающая 5%, прежде чем рассеяться, проникает на глубину до 100 нм. Остальные электроны рассеиваются при обычных толщинах. Если пучок электронов заставить вращаться по всем направлениям в пределах определенного конуса, вновь выходящие на поверхность рассеиваемые и вторичные электроны дают картину с контрастом до 5%, которая известна под названием картины каналовых электронов.

Этим методом можно воспользоваться для получения данных об ориентации и степени совершенства кристаллической решетки.

Обзорная литература: 163, 598.

27.11. ПРИМЕНЕНИЕ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ В ИССЛЕДОВАНИИ ПОЛИМЕРОВ

Сканирующей электронной микроскопией можно пользоваться для изучения морфологии полимеров, сополимеров, блок-сополимеров, смесей полимеров; исследования микроструктуры двухфазных полимеров, полимерных сеток, шероховатых и разрушенных поверхностей, клеев и особенно поверхностей, образующихся при разрушении клеевого шва; наполненных и армированных волокнами пластиков; органических покрытий (дисперсий пигментов, текучести связующих и их адгезии к пигментам и субстратам, выветривания из-за покрытия продуктами гниения, меления, образования пузырей или растрескивания, а также набухания окрашенных пленок в воде); пенопластов, определения качества пластиков, получающихся экструзией или прессованием.

Обзорная литература: 266, 388, 531, 541, 592, 1068, 1367, 1427.

Периодическая литература: 2289, 2305, 2421, 3057, 3060, 3287, 3377, 3391, 3683, 3706, 3771, 3967, 4072, 4316, 4570, 4786, 4854, 5353, 5687, 5700, 5906, 6089, 6374, 6450, 6616, 7175.

Глава 28

РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ

28.1.

Обзорная литература.- 16, 57, 298, 309, 342, 669, 704, 758, 820, 846, 979, 1023 1131, 1254, 1255, 1328.

СВОЙСТВА РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ

Рентгеновские лучи образуются при бомбардировке металлической (железной, медной или молибденовой) мишени (анода) электронами с высокой энергией. Рентгеновские лучи имеют свой спектр (рис. 28.1).

Рентгеновский спектр состоит из следующих двух частей (табл. 28.1):

Таблица 28.1

Длины волн К-эмиссионных серий и краев К-ноглощения (О: 758]

Элемент г Кран К-поглощения

Fe Си Мо 26 29 42 1,93991 1,54433 0,71354 1,93597 1,54051 0,70926 - 1,75653 1,39217 0,63225 1,38102 0,62099 1,743 1,380 0,619

1. Широкая полоса, за которую ответственно непрерывное излучение.

2. Характеристические линии, называемые Ка и Линия Ка состоит из двух компонент Ка, и Ка,, отделенных друг от друга очень маленьким интервалом длин волн. Для разделения линий Ка и /Сп используют абсорбционные фильтры из таких металлов, как цирконий, никель или марганец (табл. 28.2). Для исследования полимеров наиболее часто применяют рентгеновские лучи СиКа, прошедшие через никелевый фильтр (1,54178 А).

го

(28.2)

(28.3)

Рентгеноструктурный анализ

117

116

Глава 28

(110)

Too о

210

ойТ1'

10»

Рис 28 3. Кристаллическая плоскость (001) (а). Цепи расположены перпендикулярно плоскости рисунка. Пунктирными линиями обозначе

страница 211
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186 187 188 189 190 191 192 193 194 195 196 197 198 199 200 201 202 203 204 205 206 207 208 209 210 211 212 213 214 215 216 217 218 219 220 221 222 223 224 225 226 227 228 229 230 231 232 233 234 235 236 237 238 239 240 241 242 243 244 245 246 247 248 249 250 251 252 253 254 255 256 257 258 259 260 261 262 263 264 265 266 267 268 269 270 271 272 273 274 275 276 277 278 279 280 281 282 283 284 285 286 287 288 289 290 291 292 293 294 295 296 297 298 299 300 301 302 303 304 305 306 307 308 309 310 311 312 313 314 315 316 317 318 319 320 321 322 323 324 325 326 327 328 329 330 331 332 333 334 335 336 337 338 339 340 341 342 343 344 345 346 347 348 349 350 351 352 353 354 355 356 357 358 359 360 361 362 363 364 365 366 367 368 369 370 371

Скачать книгу "Экспериментальные методы в химии полимеров. Часть 2" (19.1Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
Кликни, звони, скажи промокод на скидку в KNS "Галактика" - макбук про купить в Москве и более чем в 100 городах России.
реле потока shuft sl-1e
ремонт холодильников в дедовске
естественная утечка фреона

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(17.01.2017)