химический каталог




Синтез минералов. Том 2

Автор Ю.М.Путилин, Ю.А.Белякова, В.П.Голенко и др

м 'э hkl dp, им dg. ИМ

0,8990 0,8988 19 221 0,2968 0,2970 •16

0,8281 0,8268 50 151 0,2721 0,2741 22

0,4495 0,4480 20 061 0,2592 0,2588 10

0,4139 0,4137 25 202 0,2492 0,2494 12

0,3895 0,3863 18 351 0,2283 0,2279 6

0,3831 0,3840 20 080 0,2248 0,2243 8

0,3415 0,3410 16 132 0,2197 0,2171 10

0,3390 0,3398 8 081 0,2061 0,2069 3

0,2238 0,2229 35 222 0,2022 0,2020 3

0,3063 0,3054 100

Химический состав волокнистой фазы [%); SiO, 61,30; Fe.0,2,31-, MgO 33.46; NasO 0,24; F4.90 0= F, 2,06.

С другой стороны, отражения с равными 0,367 и 0,284 нм, характерные для орторомбического антофиллита, отсутствуют на дифракционной картине исследуемого соединения. Мономинераль-ность синтезируемого фторкупфферита подтверждается тем, что удалось проиндицировать все линии дифрактограммы с параметрами элементарной ячейки (нм): с=0,527; 6=1,798; о = 0,9512; р. = 102° 12' (табл. 34).

Доказательством того что катионы Na+, несмотря на их присутствие в исходной шихте, практически не входят в структуру синтезируемой фазы, служат результаты химического анализа. Рассчитанная на их основе структурная формула

(Na0,„eMge,54Feot3)e,s3 [Si8,04O21 ,37^0,03, F2.O3

близка к идеальной, хотя отличается от нее небольшим дефицитом катионов за счет присутствия Fe3+.

Принадлежность исследуемой фазы к фторкупффериту, т. е. моноклинной разновидности амфибола с пространственной группой С 2/т, подтверждается также результатами изучения методом микродифракции электронов. Данные этого метода в сочетании с электронно-микроскопическим изображением объекта позволяют не только диагностировать, но и устанавливать морфологические особенности микромонокристаллов, а также изучать механизм ми-нералообразования. Вместе с тем изучение волокнистых амфиболов методом микродифракции сопряжено с рядом трудностей, для преодоления которых следует иметь в виду следующее обстоятельство. Микромонокристаллы волокнистых соединений вытянуты параллельно [001] и, следовательно, для них невозможно без использования ультратонких срезов получать сечения обратной решетки с индексами узлов hkO. 122

Из дифрактограммы ориентированного препарата следует, что наиболее развитые грани волокнистых кристаллов должны иметь индексы (ПО) и (100). Естественно, что на подложке объекта кристаллы будут лежать именно этими гранями. Однако направлению первичного пучка, перпендикулярного плоскостям (ПО) и (100), точно не соответствуют рациональные сечения обратной решетки, проходящие через начало координат. Пусть, например, кристаллы лежат на подложке плоскостью (100). В этих условиях первичный пучок будет совпадать с осью х обратной решетки. Для параметров обратной решетки анализируемого амфибола справедливо, 40 2,615 с cosp = a или 13 с cosp = 5a, следовательно, вектор перпендикулярен к вектору [5013]. Ясно, что плоскость сечения обратной решетки, включающая векторы [010] и [5013], будет отображаться на электронограмме в основном только рефлексами 0k0. Таким образом, для получения рациональных плоскостей обратной решетки моноклинных амфиболов необходимо в электронном микроскопе иметь гониометрическое устройство, позволяющее изменять ориентировку кристаллов относительно первичного пучка.

Трудности в интерпретации точечных электронограмм возникают также из-за широко распространенного в структурах моноклинных амфиболов двойникования в плоскости (100). Наложение дифракционных картин от двух индивидов двойника не только симулирует изменение симметрии объекта, но и служит причиной появления «запрещенных» рефлексов, обусловленных эффектами вторичной дифракции.

Наконец, следует учитывать, что синтезированные кристаллы могут отличаться либо формой элементарных ячеек (моноклинной или орторомбической), либо пространственной симметрией при одной и той же их геометрии (С 2/т или Р 2\/т, Рпта или Рптп).

Полученная на электронном микроскопе JEM-7 с применением гониометрического устройства точечная электронограмма (рис. 42, а) содержит рефлексы hkh, которые распределены в соответствии с пространственной группой С2/т по центрированному мотиву. Оси прямоугольной сетки точечных рефлексов совпадают с осью у и вектором [101]. Точечная электронограмма на рис. 42,6 характеризуется таким же распределением сильных рефлексов, что и приведенная выше, но кроме того, на ней присутствуют слабые отражения, запрещенные пространственной группой С 2/т.

Аналогичные картины описаны И. Л. Хитчисаном для природных и В. А. Дрицем для искусственных волокнистых амфиболов. Появление подобных дифракционных эффектов обусловлено двойникованием, при котором два индивида имеют общее направление осей В и С, а их оси А связаны плоскостью зеркального отражения. После соответствующего изменения ориентировки кристалла за счет его поворота вокруг оси В возникает дифрак123

Рис. 42. Точечные электронограммы и проекция плоскости (010) обратной решетки двойника фторкупфферита:

а — точечная электронограмма с рефлексами hkl; 6 — точечная электронограмма с сильными hkl _и слабыми okl рефлексами; в — точечная электр

страница 47
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102

Скачать книгу "Синтез минералов. Том 2" (3.08Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
обучение по чиллерам
новогодние подарки для кухни
курсы ландшафтного дизайна в юзао
косметологические курсы в митино

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(05.12.2016)