химический каталог




Основы структурного анализа химических соединений

Автор М.А.Порай-Кошиц

нергетическая кристаллохимия, использующая данные о геометрии расположения атомов для оценки (на основе полуэмпирических или квантово-химиче-ских расчетов) энергии структуры и других термодинамических характеристик кристалла.

3. Динамическая кристаллохимия, изучающая характер тепловых колебаний атомов и более крупных структурных единиц, их ангармонизм, температурную зависимость, их связь с фазовыми переходами и т. п.

4. Электронная кристаллохимия, изучающая особенности распределения электронной плотности в валентных оболочках атомов и в межатомном пространстве.

Разработка проблем динамической и электронной кристаллохимии требует проведения экспериментальных исследований на уровне очень высокой прецизионности. Эти области в настоящее время находятся лишь в стадии своего становления.

Основным для химии остается классический рентгено-структурный анализ (монокристаллов), направленный на определение координатных параметров атомов и не требующий сверхвысокой прецизионности. Он создает главную структурную основу решения самых разнообразных задач химии как при изучении процессов протекания реакций и разработке проблем направленного синтеза,, так и при интерпретации химических и физических свойств веществ, и тем более при поисках общих стерео-химических закономерностей, свойственных соединениям разных классов. Естественно, что именно в этой области рентгеноструктурного анализа активно пробуют свои силы химики самого различного профиля, не имеющие специальной подготовки в области кристаллохимии.

ОГЛАВЛЕНИЕ

Предисловие 3

Глава I. Основные понятия и элементы структурной криссталлографии 5

А. Описание решетки кристалла 6

§ 1. Группа трансляций — решетка кристалла 6

§ 2. Индексы узлов, узловых рядов и узловых сеток решетки кристалла 7

§ 3. Обратная решетка 10

Б. Пространственные группы симметрии 15

§ 4. Обозначения элементов симметрии конечных фигур,

принятые в структурной кристаллографии .... 15

§ 5. Закрытые и открытые операции симметрии .... 16

§ 6. Точечные и пространственные группы симметрии . . 20

§ 7. Взаимодействие трансляций и других операций симметрии , 23

§ 8. Классификационная схема пространственных групп

симметрии 25

§ 9. Классы симметрии, сингоний и категории .... 26

§ 10. Координатные системы и метрика решеток .... 29

§ И. Типы решеток Бравэ 32

§ 12. Графическое изображение пространственных групп

симметрии 36

§ 13. Обозначения пространственных групп симметрии 41

§ 14. Правильные системы точек 45

Глава II. Дифракция рентгеновских лучей в кристалле . . 47

§ 1. Физическая основа рентгеноструктурного анализа 47

§ 2. Параметры рентгеновских волн; рассеяние рентгеновских лучей 49

§ 3. Задачи, решаемые в ходе рентгеноструктурного анализа кристаллов 50

§ 4. Условия Лауэ 54

§ 5. Методы получения дифракционного эффекта .... 56

§ 6. Другие способы представления дифракционного эффекта. Индицирование рентгенограмм 58

§ 7. Области применения трех методов получения дифракционного эффекта 64

§ 8. Фотографическая и дифрактометрическая аппаратура рентгеноструктурного анализа монокристаллов 69

§ 9. Автоматизация рентгеноструктурного эксперимента 77

§ 10. Методы ускорения дифрактометрического эксперимента 79

§ 11. История развития методики и техники структурных

исследований кристаллов 80

Глава III. Первый этап анализа структуры. Определение параметров решетки и симметрии кристалла ........ 82

§ 1. Параметры решетки и число формульных единиц в

ячейке 82

§ 2. Симметрия кристалла 84

Глава IV. Второй этап анализа структуры. Определение координат атомов в элементарной ячейке кристалла .... 90

§ 1. Факторы, влияющие на интенсивность дифракционных лучей 90

§ 2. Структурная амплитуда и координаты атомов ... 93

§ 3. Структурные амплитуды и распределение электронной плотности по ячейке 98

§ 4. Учет симметрии в формулах структурной амплитуды

и электронной плотности 100

§ 5. Проблема начальных фаз 102

§ 6. Общая схема второго этапа анализа структуры . . 104

§ 7. Метод межатомной функции 108

§ 8. Статистический (прямой) метод определения начальных фаз . . . 119

§ 9. Метод минимизации структурного функционала . . 150

§ 10. Уточнение координатных и других параметров

структуры 154

§ 11. Обработка результатов исследования 159

§ 12. Автоматизация рентгеноструктурных расчетов ... 164

Глава V. Сравнительные возможности и перспективы дифракционных методов исследования. Задачи рентгеноструктурного анализа в химии 169

§ 1. Сравнительные возможности рентгеноструктурного

анализа, нейтронографии и электронографии кристаллов 169

§ 2. Сравнительные возможности дифракционных методов изучения структуры кристаллов и веществ в

других агрегатных состояниях 173

§ 3. Основные задачи рентгеноструктурного анализа в

химии 175

§ 4. Новые задачи рентгеноструктурного анализа в физической химии

страница 65
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66

Скачать книгу "Основы структурного анализа химических соединений" (1.73Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
аренда склада под личные вещи
купить сантехнику в москве недорого
Комод Crand Central
belimo lr24a-sr

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(26.02.2017)