химический каталог




Основы структурного анализа химических соединений

Автор М.А.Порай-Кошиц

араметр, характеризующий данную дифракцию. Набор значений n/d вместе с оцененными относительными интенсивностями дифракционных лучей и составляет так называемый «рентгеновский паспорт» каждого индивидуального соединения. Такие паспорта используются в рентгенофазовом анализе как эталоны для идентификации исследуемых образцов *.

Соотношение (3) определяет связь l/d с параметрами решетки и индексами отражающих плоскостей. Заменив \/d на njd, а индексы (hkl) на pqr, получим связь n/d с параметрами решетки и дифракционными индексами. Следовательно, по набору n/d, полученному из дебаеграммы, в принципе можно определять параметры решетки и индексы каждого отражения. Эта задача достаточно сложная, так как требуется найти шесть общих параметров и по три целочисленных коэффициента для каждого из njd. Однако в простейшем случае кубического кристалла, где

1 г

n/d = — VР2 + Я2 + г*, а

задача решается простым перебором всех возможных

значений р2q2-\-г2 с целочисленными р, q и л

* Подробнее см.: Васильев Е. К., Нахмансон М. С. Качественный рентгенофазовый анализ. Новосибирск, Наука, 1985.

Точность определения межплоскостного расстояния dpqn а следовательно, параметра а зависит от угла отражения f> дифракционного луча. Действительно, если dpqr~rtA/2sjnf}, то абсолютная погрешность определения

nX COS d

а относительная

Отсюда следует, что точность определения параметра быстро повышается с увеличением угла t}. Так как конструкция камер для порошковой дифракции позволяет фиксировать на пленке отражения под углами, близкими к 90°, этим методом можно достигнуть весьма высокой точности в определении параметров решетки (вплоть до пятого знака после запятой при термостати-ровании камер и принятия некоторых других мер, обеспечивающих прецизионность измерения углов д).

С помощью более сложных процедур, но также достаточно надежно, индицируются дебаеграммы кристаллов средней категории (тетрагональных и гексагональных) при условии, что параметры а, с их решетки не слишком велики. Что касается индицирования дебае-грамм кристаллов низших сингоний, то оно сопряжено с большими трудностями и возможно главным образом в тех случаях, когда заранее известны примерные параметры решетки, например, на основе изоструктурности исследуемого вещества и соединения, для которого параметры известны, или при изучении твердых растворов замещения, когда параметры решетки лишь незначительно изменяются по сравнению с (известными) параметрами решетки исходного соединения. В этом заключается основной недостаток метода порошка. Он усугубляется тем обстоятельством, что линии дебаеграммы, отвечающие -разным pqr, часто накладываются друг на друга, и в тем большей степени, чем больше параметры решетки.

Поэтому в структурном анализе этот метод используется главным образом при исследовании кристаллов кубической и средних сингоний.

* Или излучение, получаемое в синхротроне (см. ниже, § 10).

Новые возможности в этой области открывает уже упоминавшийся метод энергодисперсионной дифракто-метрии. В отличие от обычного метода порошка для дифракции здесь используется не монохроматическое, а белое излучение рентгеновской трубки *. В соответствии

с уравнением Брэгга кристаллики образца, имеющие разную ориентацию, отражают в заданном направлении лучи разной длины волны (если ф=const, то Я— = (2dhkiin)sinт}~ (dhkiln)const). Пользуясь детектором-анализатором квантов по энергии (по длине волны) и порошковым образцом, можно получить полную дифракционную картину при неподвижно закрепленном положении детектора под некоторым углом

2Ф0 к первичному лучу*. Такая схема позволяет резко упростить аппаратурное оформление прибора и, в частности, получать дифрактограммы образцов, находящихся внутри печей при высокой температуре, с образцов, находящихся в прессе под высоким давлением, с различных точек сложного по конфигурации агрегата и т. д.

* Понятно, что относительные интенсивности компонент разложения дифракции по Я здесь уже иные, чем на обычной дифрак-тограмме, так как они зависят и от распределения I=*f(\) в первичном пучке.

Полихроматический метод. Схема рентгеновской камеры для получения рентгенограмм по методу Лауэ (лауэграмм) представлена на рис. 32. Пучок рентгеновских лучей МШ направлен на неподвижный кристалл; плоская кассета с пленкой расположена за кристаллом. На пленке фиксируется лишь часть дифракционного спектра, даваемого кристаллом, хотя, в принципе, можно было бы воспользоваться и цилиндрической кассетой, значительно расширяющей фиксируемое дифракционное поле*.

Основной недостаток полихроматического метода связан с тем, что все дифрагируемые кристаллом лучи pqr имеют разную длину волны, а это означает, что интенсивности дифракционных лучей в этом методе зависят не только от структуры кристалла, но и от распределения интенсивности по Л в спектре первичного пучка. Последнее к тому же зависит от режима работы рентгеновской трубки. Эта и ряд других особенностей полихроматического метода резко сужают его возможности в струк

страница 21
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66

Скачать книгу "Основы структурного анализа химических соединений" (1.73Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
курсы аудит дистанционно
кател на отопление длительного горения
концерты 2017 год
smart balance kid's umka отзывы

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(04.12.2016)