химический каталог




Основы структурного анализа химических соединений

Автор М.А.Порай-Кошиц

двинется с поверхности сферы отражения (на рнс. 29, г «к нам» или «от нас») и луч p'q'r' перестанет существовать.

Интерференционное уравнение вкладывает новое, более глубокое содержание в понятие обратной решетки. Теперь каждый узел ее однозначно связан с определенным дифракционным лучом pqr и может рассматриваться как некое условное изображение этого луча. И наоборот, рентгенограмму, полученную методом вращения или одним из рентгенгониометрических методов, можно считать искаженным изображением (проекцией) определенной части обратной решетки. Способ «искажения» зависит от кинематической схемы каждого из рентгенгониометрических методов. Но коль скоро она известна, переход от рентгенограммы к обратной решетке не представляет труда. А поскольку порядок обозначения узлов в решетке известен, такой переход дает наиболее простую и удобную основу для определения ди

фракционных индексов (индицирования) рентгенограмм.

Справедливо и обратное. По заданным индексам pqr, а следовательно, и по вектору Hpqr достаточно легко определить и угол со поворота кристалла из исходного положения в отражающее и направляющие углы дифракционного луча, т. е. найти ориентацию кристалла и положение счетчика в дифрактометре для регистрации дифракционного луча pqr.

Рис. 30. Общий случай поворота кристалла в отражающее положение

Поскольку далее будут рассмотрены кинематические схемы некоторых наиболее распространенных монокристальных дифракто-метров, следует несколько детальнее остановиться на понятии направляющих углов дифракционного луча.

Рис. 29, в в сущности описывает простейший случай, когда ось вращения направлена перпендикулярно пучку MMf (направлена на нас) и рассматривается вектор НрНа рис. 30 представлен (в иной проекции) более общий случай. Ось вращения АА' кристалла лежит в плоскости чертежа, а первичный пучок ММ', также лежащий в плоскости чертежа, направлен наклонно к оси вращения и образует угол \х с плоскостью, ей перпендикулярной. Выбранный вектор Y\pqr образует с той же плоскостью угол р.

При вращении кристалла вектор Wvqr описывает конус, и при повороте на угол <и пересекает сферу отражения не в ее экваториальной плоскости, а в точке D кругового сечения, расположенного выше экваториальной плоскости. Соответственно дифракционный луч pqr, идущий из центра сферы отражения через точку пересечения D, направлен наклонно к оси вращения. Его направление

удобно характеризовать двумя углами: углом Y в его проекции на экваториальную плоскость и углом v отклонения от экваториальной плоскости.

Понятно, что углы р, |i, v и Т взаимосвязаны. Эту взаимосвязь нетрудно передать в математической форме. В частности, можно показать, что

1 Нр?г | 2 cos2 р — cos2 р. + cos2 v — 2 cos {A COS v cos Г.

Естественно, что в это соотношение вошла и длина вектора обратной решетки, т. е. параметры решетки кристалла а, Ь, с, а, (3, у и индексы дифракционного луча pqr.

Угол со независим от остальных углов, поскольку он характеризует угол поворота кристалла нз некоторого начального (произвольного) положения в отражающее.

§ 7. Области применения трех методов получения дифракционного эффекта

Метод порошка. Основное достоинство этого метода заключается в простоте аппаратурного оформления в сочетании с возможностью получить сразу полный дифракционный спектр исследуемого вещества. Образец в виде маленького цилиндра ставят в центре круговой

Рис. 31. Схема дифракционной картины, получаемой по методу порошка

кассеты с рентгеновской пленкой (рис. 31). Поскольку один и тот же угол t> с первичным пучком ММ' могут иметь кристаллики с разной азимутальной ориентацией, суммарно они создают конус лучей, имеющих одни и те же индексы pqr с осью вдоль ММ'. Вся рентгеновская картина — совокупность таких конусов с разными углами полураствора 2t>. На рентгеновской пленке они оставляют след в виде совокупности дужек, симметрично расположенных относительно точки выхода из кассеты первичного пучка.

В принципе не требуется никаких вращательных или поступательных движений ни образца, ни кассеты. Однако для того, чтобы в отражающее положение попало возможно большее число зерен поликристаллического образца, последний обычно вращают вокруг его оси. Это усиливает контрастность рентгенограммы. В порошковом дифрактометре кассету с пленкой заменяет счетчик— детектор, вращающийся вокруг образца по кругу.

Поскольку в образце присутствуют зерна всех возможных ориентации, дифракционный спектр, полученный этим методом, является полным. Дебаеграмма может служить рентгеновским паспортом любого индивидуального кристаллического соединения.

Для интерпретации дебаеграммы удобнее всего воспользоваться уравнением Брэгга. Единственной геометрической характеристикой каждого дифракционного луча в этом методе является угол между направлением этого луча и первичным пучком, всегда равный 2t>. Определив t> из рентгенограммы и зная К, по уравнению (20) получим величину n/d как п

страница 20
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66

Скачать книгу "Основы структурного анализа химических соединений" (1.73Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
удаление залома на ваз 2107
стоимость услуг по регистрации вывески в домодедово
стон соур моска
сервопривод sqn121a3500

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(17.10.2017)