химический каталог




Эмаль и эмалирование

Автор А.Петцольд, Г.Пёшманн

40-кратным увеличением). Являются ли «черные точки» следствием пробелов в грунтовой эмали, загрязнений или выделения газа, можно определить, например, только при увеличении не менее 20.

Для более подробного исследования металла основы или зоны реакции металла с эмалью требуются более сильные оптические средства, например микроскоп для исследований в отраженном свете «Неофот 2» (увеличение 50—1000). На поперечных шлифах можно распознать дефекты в материале основы, происхождение пузырьков и структурные отклонения в слое

369

3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28

о§о-о*•Q--X

х х-#00х о-*оох х Ох

х О о х

х х•х О О —

х -ёхоо О х х

-хОО-х

— XX X

хО,х ОО-О

х — О х х — х

— X х О

X х О х • О х ?

X-о § о

—o-o-ioх O-fО х

i=°.i°=i—

О- * - * о х-о-#

о •

о—о х

—о--о#

О х

zzzzi2*2zz zzzz2°*zzz

о о- х

х ц Ц X — X

б-

эмали. Применение и значение микроскопии при выявлении причин появления пузырьков и вскипаний в эмали описали Марти-нек (1964) и Грум-Гржимайло (1972).

Химический состав мельчайших частиц, посторонних тел, отклонения от заданной структуры и границы раздела фаз можно определить при минимальном размере частиц 1—5 мкм с помощью электроннолучевого микроанализатора (микрозонда) на поперечном шлифе или на поверхности качественно или полуколичественно (см. по этому вопросу Гофман, 1967 а).

Рентгеновский анализ' тонкой структуры пригоден для определения минералогического состава и поэтому представляет интерес, например, при исследовании процессов кристаллизации. Однако он неприменим для определения отдельных небольших посторонних включений в эмали.

Большое увеличение (150—300 тысяч раз) и высокая разрешающая способность (1—3 им) электронного микроскопа позволяют выявить и идентифицировать очень маленькие различия в структуре, выделения кристаллов и включения в эмали, вызывающие дефекты.

Описанные современные вспомогательные средства исследования в эмалировочных цехах используются редко; однако в сложных случаях они необходимы для выявления причин дефектов и должны привлекаться в кооперации с крупными предприятиями и научными институтами.

17.2. Описание дефектов

В табл. 17.1 важнейшие дефекты и их возможные источники расположены в соответствии с обзором Олдинджера (1957 а); отсюда видно, что основное число причин дефектов и влияющих факторов приходится на металл основы, процесс обжига и загрязнения. Однако такое обобщенное представление может служить лишь грубым ориентиром.

Прочие обобщающие представления о дефектах эмали и их причинах дают Ваймер (1959 Ь, 1967), Гайгер (1966), Хадвигер (1971, 1972) и Кири (1974). Дефектами при эмалировании серого чугуна специально занимались Эванс (1954), Меркер (1956 Ь), Тюрмер (1958) и Вагнер (1963). Кроме того, следует указать на издаваемый Обществом немецких эмалировщиков (VDEfa) каталог дефектов эмали (1972 и след.).

17.2.1. Изломы и иесплошиости в эмалевом покрытии

Изломы и несплошности в эмали (или в бисквите) возникают в принципе тогда, когда эффективные напряжения превышают прочность эмали. В результате термических и механических влияющих факторов нормальные предварительные напряжения сжатия могут повыситься или понизиться до области растягивающих напряжений. Слишком высокие напряжения сжатия

371

ведут к отслоениям в .эмали, а слишком высокие растягивающие напряжения — к трещинам в эмали. Кроме того, прочностные свойства эмали могут измениться и повлиять на ее разрушение.

17.2.].]. Отслоения

Отслоения представляют собой скорлупчатые вздутия эмали со вскрытием грунтового слоя или даже металла основы в различных размерах, на отдельных местах или. на значительных площадях.

Отслоения вследствие слишком высокого напряжения возникают преимущественно из-за очень небольших температурных коэффициентов линейного расширения эмали или местных утолщений эмалевого покрытия. Отклонения этого коэффициента от заданного значения при изготовлении фритты и подготовке эмали необходимо поэтому поддерживать как можно меньшими. В зависимости от условий изготовления уменьшение а на (104--г-20)- 10_7К-1 уже может привести к отслоениям.

Поскольку в случае литейного чугуна тепловое расширение нередко бывает существенно различным (Деккер, 1960), требуется точная подгонка значения АК для эмали. В большинстве случаев это достигается путем дополнительного применения вен-цовой эмали. На конструктивно обусловленных скруглениях в эмали развиваются напряжения среза, которые с увеличением толщины слоя эмали возрастают и поэтому вызывают отслоения. В этом отношении особенно опасны титановые эмали вследствие низкого значения АК у них.

Сжимающие напряжения в эмали возрастают с увеличением толщины листа. Поэтому нормальное значение АК при толстом листе должно быть несколько больше, чем при эмалировании тонкого листа.

Повышенные напряжения, обусловленные ударами или сжатием эмалевого покрытия, могут привести к отслоениям, особенно на скруглениях (сразу ил

страница 136
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186 187 188 189 190 191 192 193 194 195 196 197 198 199 200 201 202 203 204 205 206 207 208 209 210 211 212 213 214 215 216 217 218 219 220 221

Скачать книгу "Эмаль и эмалирование" (6.29Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
купить зеркало настенное
частотный преобразователь fc-051 0.3 rdn
тейпы декатлон
снять в аренду кладовку для хранения личных вещей

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(23.05.2017)