химический каталог




Фотопроводящие окислы свинца в электронике

Автор В.А.Извозчиков, О.А.Тимофеев

я анализа формы ДК и механизма межзонных электронных переходов, осуществляемых по спектральному ходу функции ?. М. Гуревича — П. Кубелки — Ф. Мунка (ГКМ)

F {R) = {\-Rfl{2R), (9)

практически воспроизводящей спектр поглощения. С большей точностью, но в сравнительно узком интервале значений коэффициентов отражения R и поглощения а, анализ может быть проведен после пересчета СДО в спектры поглощения (СП) по формулам В. В. Антонова-Романовского, Б. И. Степанова и др. С точностью до 20% а вычисляется по упрощенной формуле:

a^^---^F(R), (10) ? 1 — r0

где

Г0 = (П— «cb)2/(«+«cb)2.

и с точностью до 0,3/6 — по полной формуле: g«J-ln (l-O)* + 2ro(l-2,0)F(g)

21 (l_,o)i_2r0F(/?) V '

В (10), (11) r0 — коэффициент отражения на границе зерно — связующая среда; ясв — коэффициент преломления связующей среды.

В исследованных образцах чувствительность определения ? по R составляет Sa = dRl [d In (al) ]? 0,05 — 0,16 в пределах R = 0,20~г-0,85 при использовании в качестве связующего вещества ПБМК с псв — 1,5 и с учетом дисперсии ? (?).

При записи СДО обычно в качестве эталона сравнения используют окись магния, имеющую в пределах 290—700 нм практически постоянный коэффициент R = 96+ 1%. Для изучения реакций фазовых переходов, примесного поглощения и центров окраски, сорбционных процессов и однородности поверхности в [23 описан метод относительного диффузного отражения (ОДО), когда в качестве эталона употребляется аналог образца, не подвергавшийся внешним воздействиям. Метод ОДО удобен и для количественного контроля фазового состава образцов по разности функций ГКМ или условной оптической плотности Dv = — In R, подобной D = = - In T0.

При использовании СДО для количественного фазового анализа существует трудность, обусловленная тем, что фазовые переходы реализуются на поверхности отдельных микрокристаллов, а СДО определяется их спектроскопическими характеристиками и размерами. Нарастание или распространение вглубь формирующегося поверхностного слоя новой фазы оптически экранирует ядро микрокристалла, приводит к нарушению аддитивности поглощения и к более глубоким изменениям СДО, чем для простой механической

50

смеси (рис. 16). Поэтому для составления градуировочных графиков необходимо независимое определение методом РДА фазового состава в соотношении, при котором изменения СДО прекращаются. Это — верхняя граница применимости СДО для определения фазового состава.

Современные спектрофотометры с интегрирующей сферой СФ-10, СФ-14 позволяют получать СДО в видимой части спектра экспрессным методом, а для исследования СДО в широком температурном интервале разработаны простые в изготовлении вакуумные кюветы-приставки: стеклянная к СФ-10 [10] и металлическая — к ПДО-1 [5].

По типу СДО и соответствующих им СП можно выделить две основные группы образцов. В первой с достаточной четкостью выявляются межзонные переходы, во второй — край поглощения вуалируется экспоненциальным «хвостом». Применительно к конкретным окислам основные результаты анализа спектров следующие.

В РЬОр в узком интервале

а = (l-h5)-10d см~

функ-

ция a(h\) аналитически представляется уравнением

?=[(1,5·105)/(/??)]?

?(?? — 2,68)32,

Рис. 16. Спектры диффузного отражения

/ — механической смеси порошков состава

0,2 рь.о, + 0,8 рьо_; 2 — рьо„, окислен-3 4 ? ?

ной до такого же, что и /, состава

характерным для прямых запрещенных межзонных переходов.

Однако в более широкой области значений а экспериментальные кривые лучше аппроксимируются экспоненциальными функциями (рис. 17, 18) типа

-? (hv0 — ftv)

а =?0exp

a= a0exp

kT

—(hva — hv)

Wg

(12) (13)

характеризующими край поглощения большинства аморфных и ряда кристаллических тел. Формула (12) отражает так называемое правило Урбаха и часто записывается в виде

а = а0 ехр

? (?? — hv0 -j- ЬТ) kT

(14)

51

где а0, hv 0 — постоянные, являющиеся координатами фокальных точек семейства кривых, снятых при разных ? и отвечающие АЕ0 (0) — оптической ширине запрещенной зоны при ? = 0 К; Ь — термический коэффициент изменения АЕ0; ? — функция, слабо зависящая от Т.

В РЬОр при 7<273 К СП в области ?? « 2,2-т-2,9 эВ разделяется на два экспоненциальных участка. Один — относительно низкочастотный, отражает правило Урбаха с параметрами (14)-.

а) о) в)

Рис. 17. Зависимость от энергии фотонов коэффициента поглощения монофазных порошков РЬОр (о), РЬОт (б), РЬ304 (е) для моделей:

/ — экспоненциального спада края поглощения; 2,4 — прямых запрещенных переходов; 3 — прямых разрешенных переходов; 5 — сумма кривых 3 н 4; 6, 7 — непрямых

разрешенных переходов

а0 « 4,4· 103 см-1, ??0 =г 2,76 эВ и. ? = 0,12 +0,1 о. е. Второй — характеризуется независимостью параметра экспоненты w0 « 0,043 эВ от Т. С переходом в область Г;>273 К первая экспонента исчезает, а вторая приобретает урбаховский вид с фокальной точкой прямых loga = /(Av) при Av0 ? 2,90 +0,5 эВ, «о ~ 10 см-1 и ? « 0,54 +0,02 о. е. С расширением области анализа функции a (hv), за счет перехода от СДО к СП по (9

страница 22
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61

Скачать книгу "Фотопроводящие окислы свинца в электронике" (1.48Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
кладовая для вещей
ремонт холодильных установок учеба
часы в консервной банке купить
ручка скоба на входную металлическую дверь

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(09.12.2016)