химический каталог




Поверхностные силы

Автор Б.В.Дерягин, Н.В.Чураев, В.М.Муллер

екулярного притяжения Fm <Г 0. Показанные на рис. IV.22 экспериментальные точки как раз и относились (с небольшой поправкой на влияние Fe) к этой части графика F (Н). При Н 50 А резко нарастают силы отталкивания, связанные с преобладающим эффектом электростатического оттлакивания. Именно по этой части графика F (Н) была рассчитана величина потенциала yҐi поверхности нитей. Глубина силовой ямы, как видно из рис. IV.23, составляет около 10~3 дин, а глубина соответствующей потенциальной ямы — около 3«10"3 эрг/см2. Близкие значения глубины потенциальной ямы получены Израелашвили и Адамсом для 0,1 моль/л раствора KN03 [97], а также для 0,1 моль/л КС1 Зоннтагом с сотр. [99], разработавшими новую модификацию метода скрещенных нитей.

Хорошие возможности прямого измерения молекулярных сил, действующих через жидкие прослойки, представляют эксперименты

с тонкими плоскими смачивающими пленками [100]. Измерения здесь облегчаютел благодаря тому, что расклинивающее давление плоской пленки П легко измеряется в состоянии равновесия по капиллярному давлению мениска Рк = П, с которым пленка находится в контакте. Экспериментальное получение изотерм П (К) расклинивающего давления пленок неполярных жидкостей на различных подложках также позволяет этим методом осуществить прямую проверку теории молекулярных сил [100].

Подводя итоги современного состояния исследований, можно сделать вывод, что макроскопическая теория молекулярных сил, начало развитию которой было положено Лифшицем-[17, 18], получила хорошее экспериментальное подтверждение в результате прямых измерений сил, проведенных различными методами в разных лабораториях.

Обнаруживаемые в ряде случаев расхождения между теорией и экспериментом связаны, скорее всего, с недостаточно полными сведениями о спектральных характеристиках взаимодействующих тел. При этом возникает важный вопрос о соответствии спектральных свойств массивных образцов и их поверхностных слоев, вносящих тем больший вклад в силы молекулярного взаимодействия, чем меньше толщина прослойки между телами. Как известно, спектральные характеристики малых частиц заметно отличаются от соответствующих свойств массивных образцов [101, 102]. В особенности это касается металлов и полупроводников, где существуют, как известно, особые поверхностные состояния электронного газа, а также могут образовываться окисные (диэлектрические) поверхностные пленки той или иной толщины. Известно также, как сильно меняется структура поверхностных слоев твердых и жидких тел. Все это, кстати говоря, делает спектральные характеристики зависящими от способа их измерений. Например, при отражательной спектроскопии исследуются поверхностные слои толщиной примерно в полдлины волны, а при просвечивающей — значительно более толстые слои. Это может быть причиной заметного расхождения имеющихся в литературе спектральных данных [38].

Вторую, не менее важную задачу составляет правильный учет микрогетерогенности поверхности и ее неровностей, влияющих на значения локальных радиусов кривизны R и i?2 в точке сближения взаимодействующих поверхностей. Для учета влияния регулярной шероховатости и гетерогенности необходима постановка соответствующих модельных экспериментов.

Недостаточно изучены возможности управления силами молекулярного взаимодействия за счет внешних полей, например возбуждения злектронных состояний при облучении полупроводников видимым светом и ультрафиолетом; использования резонансного поглощения в области рентгеновских частот; воздействия на полярные жидкости электрических полей, меняющих состояние поляризации и влияющих на величину нулевого члена, выражаемого уравнением (IV.26).

ЛИТЕРАТУРА

1. Clairault А. С. Theorie de la figure de la terre. P., 1743.

2. Laplace P. S. Theorie de Paction capilaire. P., 1806.

3. Лебедев П. #.— Избр. соч. М.; Л.: Гостехтеориздат, 1949, с. 84—150.

4. Лондон Ф.~ Успехи физ. наук, 1937, т. 17, № 3, с. 421—440.

5. Дерягин Б. В., Абрикосова Я. Я., Лейб Ф. Б,— Вестн. АН СССР, 1951, № 6, с. 125.

6. Дерягин Б

страница 65
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186 187 188 189 190 191 192 193 194 195 196 197 198 199 200 201 202 203 204 205 206 207 208 209 210 211 212 213 214 215 216 217 218 219 220 221 222 223 224 225 226 227 228

Скачать книгу "Поверхностные силы" (3.52Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
лечение варикоцеле цена
запчасти для холодильников шарп
производство акрилловых лед панелей
моноколесо xiaomi купить в москве

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(26.09.2017)