химический каталог




Поверхностные силы

Автор Б.В.Дерягин, Н.В.Чураев, В.М.Муллер

этих опытах нанесенный слой хрома был тоньше 540 А.

Первые измерения сил молекулярного притяжения двух одинаковых массивных металлов (хром и хромированная сталь) в области толщин зазоров Н между параллельными пластинами от 0,5 до 2 мкм были выполнены Спарнаем [75], снявшим поверхностные заряды пропусканием паров спирта. Это позволило ему получить правильное значение В — 12,5-10~1э эрг-см, очень близкое к следующему из теории Казимира и Польдера (В = 13-Ю'19 эрг-см, см.

4 Поверхностные силы

97

уравнение (IV.17)). Расстояние Н в этих опытах отсчитывалось от положения контакта тел.

В дальнейшем Блокланд и Овербек [76] измерили силы молекулярного притяжения кварцевых пластин и линзы (RQ = 100 см), покрытых в вакууме слоем хрома толщиной около 1000 А. При этом было исследовано влияние задаваемой разницы потенциалов V между металлическими слоями. Возникающий самопроизвольно Вольта-потенциал между металлическими слоями компенсировался при проведении измерений молекулярных сил подачей разности потенциалов обратного знака. Был применен также новый метод измерения расстояний между телами, состоящий в измерении емкости конденсатора, образуемого слоями металла, принадлежащими двум взаимодействующим телам. Так как измерения велись в широком интервале расстояний Н (от 0,13 до 0,67 мкм), когда могло проявляться неполное запаздывание, результаты сравнивались с уравнением Лифшица (IV.23).

Для расчетов функции е использовались метод Крупна [33] и спектральные данные для хрома. Было получено хорошее согласие с теорией Лифшица во всем исследованном интервале Н. Следует, однако, заметить, что условие V = 0 при задании разности потенциалов не соответствовало точно минимуму измеряемой силы притяжения, отвечающей только молекулярным силам, что может быть связано с влиянием поверхностной окисной пленки хрома.

Хунклингер с соавт. [77] применили динамический метод измерений молекулярных сил, основанный на передаче в вакууме ниже 10~4 мм рт. ст. за счет дальнодействиющих сил колебаний линзы, прикрепленной к низкочастотному вибратору, на плоскую пластинку. Амплитуда колебаний была много меньше расстояния между линзой и пластинкой. Колебательное движение пластинки, скрепленной с мембраной микрофона, создавало переменную ЭДС. Предварительной калибровкой амплитуда ЭДС могла быть пересчитана в амплитуду вынуждающей силы. Это позволило поднять точность измерений силы F до 10"7 дин. Расстояние Н между линзой (R0 = — 25 см) и пластинкой из боросиликатного стекла, менявшееся в пределах от 0,08 до 1,5 мкм, определялось по смещению колец Ньютона от положения контакта пластинки и линзы, для которого принималось Н = 0.

Для области Н от 0,08 до 0,8 мкм экспериментальная зависимость F (Н) отвечает теоретическому уравнению (IV. 18) с константой В = (0,86 + 0,15)-10"19 эрг-см. При Н< 0,08 мкм начинало проявляться влияние неровностей полированных поверхностей стекла. При Н ;> 0,8 мкм измеряемые значения F начинали превышать теоретические в связи с влиянием небольшого количества остаточных поверхностных зарядов. Эти заряды оставались, несмотря на тщательную очистку поверхностей и напуск паров воды. Так как электростатические силы медленнее спадают с расстоянием, их влияние начинало проявляться лишь при таких расстояниях 77, когда происходил резкий (по закону 1/Н3) спад сил молекулярного

притяжения. Вероятно, по этой же причине Рувелер и Овербек [78] и Блокланд и Овербек [79] в повторных опытах получали немного завышенные (В — (1,05-4- 1,08)-10"19 эрг-см) по сравнению с теорией значения измеряемых сил для все той же системы кварц—вакуум—кварц.

Динамическим методом Арнольду с сотр. [80] удалось обнаружить интересный эффект, который прямо подтверждает зависимость молекулярных сил от спектральных свойств взаимодействующих тел. -«Металлизация» полупроводника кремния при его облучении белым светом (вследствие внутреннего фотоэффекта — перехода части электронов в зону проводимости) вызывала соответственно и рост сил молекулярного притяжения.

Во многих и

страница 57
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186 187 188 189 190 191 192 193 194 195 196 197 198 199 200 201 202 203 204 205 206 207 208 209 210 211 212 213 214 215 216 217 218 219 220 221 222 223 224 225 226 227 228

Скачать книгу "Поверхностные силы" (3.52Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
курсы ремонт кондиционеров краснодар
шоколадные подарки на новый год 2017
Перейдите по ссылке, получайте скидки в КНС по промокоду "Галактика" - Lenovo ThinkPad Yoga 12 - более 17 лет на рынке, Москва, Дубровка, своя парковка.
комплектующие изделия для коммерческого лабиринтов

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(03.12.2016)