химический каталог




Поверхностные силы

Автор Б.В.Дерягин, Н.В.Чураев, В.М.Муллер

я уже при Н Z> 50 А. Приближенное выражение (IV.48) оказалось хорошо применимым для системы полистирол—вода, так так здесь ех близко к е3. Отклонения от точного решения Лангбайна [69] не превышают 20% для а = 2500 А и составляют менее 10% для а — 1000 А. Уравнение Дерягина (IV.2) [11] точно учитывает влияние геометрического фактора при (HIa) <§J 1. Оно значительно удобнее для расчетов, так как включает энергию взаимодействия плоских поверхностей, расчеты которой могут быть проведены значительно проще и точнее.

§ 6. Основные результаты

дальнейшей экспериментальной проверки теории молекулярного взаимодействия макроскопических тел

После первых измерений, выполненых Дерягиным и Абрикосовой [6, 7, 19], были предприняты дальнейшие попытки прямых измерений молекулярных сил между различными модельными телами, которые также дали подтверждение правильности макроскопической теории и расчетов сил, основанных на спектральных характеристиках взаимодействующих тел. Обзор современных методов измерений даль но действующих поверхностных сил между модельными телами сделан в работе [72].

* С точностью до численных значений констант А в уравнениях (IV.46) и (IV.48). Как известно, расчеты констант А по Гамакеру (см. уравнение (IV.27)) и по макроскопической теории (см. уравнение (IV.24)) дают количественно отличающиеся результаты.

Для больших расстояний между телами (Н > 0,1 мкм), когда полностью проявляется запаздывание молекулярного взаимодействия, прямые измерения дают результаты хорошо согласующие

ся не только качественно, но и количественно с уравнениями (IV.17) и (IV.18) макроскопической теории. Уже упоминавшиеся Проссер и Китченер [23] для стеклянных пластин в вакууме получили значения константы В в уравнениях (IV.18) и (IV.20), равные (1,1 + 0,4)-10~19 эрг«см, что лежит между теоретическими значениями В, равными для кварца 1,53* 10~19 (при статическом значении е0 = 3,6) и 0,6-Ю-19 эрг «см (при значении п2 = 2,13). Как видно из рис. IV.4, данные Дерягина и Абрикосовой также находятся между двумя этими теоретическими оценками. Однако наименьшие из экспериментальных значений F (Н) и U (Н) на рис. IV.4 и IV.5 следует считать более надежными (см. § 2).

Учтя неудачу первых экспериментов [21], когда превалировало влияние остаточных поверхностных зарядов, Овербек с сотр. [24], применив в последующей работе плоские кварцевые пластины, а также, как и в опытах Дерягина и Абрикосовой, кварцевые пластину и линзу, получили для расстояний Н от 0,1 до 5 мкм правильные значения В = (1 -г- 2)• 10~19 эрг*см. Позднее эта методика была усовершенствована Шильфхоутом [73], проведшим еще более точные измерения на торсионных микровесах в вакууме 10~4—10~5 мм рт.ст. Смещение положения весов регистрировалось по изменению емкости плоского конденсатора. Расстояние Н между пластиной, лежащей на трех сильфонных опорах, и линзой измерялось по кольцам Ньютона с погрешностью менее 40 А. Для снятия поверхностных зарядов использовали напуск паров воды, при адсорбции которых на поверхностях кварца образуются хорошо проводящие пленки. Шильф-хоут получил при Н ';> 0,1 мкм для системы кварц—вакуум—кварц экспериментальное значение В = 0,66 *10~19 эрг «см, очень близкое к приведенному выше теоретическому значению В, рассчитанному по п2 — 2,13. Для кристаллического кварца им было получено несколько большее значение В — 0,74 «Ю-19 эрг «см, что объясняется более высоким показателем преломления кристаллического кварца (п = 1, 5 и п2 = 2,25).

Еще более высокие значения В, как и в опытах Дерягина и Абрикосовой (см. рис. IV.7), Шильфхоут получил для системы кварц-вакуум—хром: В = 2,9-10~19 эрг*см. Расчеты по уравнению (IV.19) дают близкое теоретическое значение В, равное 2,4-Ю-19 эрг-см. При проведении этих измерений на поверхность кварцевой линзы в вакууме распылением наносился слой хрома толщиной 1200 А. Последующие измерения Роувелера [74] дали для той же системы несколько меньшее экспериментальное значение В = 2,1*10"19 эрг* • см (для Н от 0,1 до 0,28 мкм). Однако в

страница 56
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186 187 188 189 190 191 192 193 194 195 196 197 198 199 200 201 202 203 204 205 206 207 208 209 210 211 212 213 214 215 216 217 218 219 220 221 222 223 224 225 226 227 228

Скачать книгу "Поверхностные силы" (3.52Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
снять склад хранения вещей
люмен d vjcrdt
решетка авн 200x100
аренда колонок москва

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(27.02.2017)