химический каталог




Поверхностные силы

Автор Б.В.Дерягин, Н.В.Чураев, В.М.Муллер

ванные растворы (С 1 моль/л) частично задерживаются гидрофильными тонкопористыми мембранами, что указывает на уменьшение концентрации электролита в тонких порах и преимущественную адсорбцию поверхностью мембран молекул воды.

Аналогичные эффекты структурного отталкивания при высокой концентрации электролита (более 0,1 моль/л) были обнаружены для плоских прослоек водных растворов Na2S04 между поверхностями стекла и ртутным мениском [180]. Равновесная толщина прослойки измерялась эллипсометрически. Расклинивающее давление прослойки находили по давлению находившегося с ней в равновесии объемного раствора, изменявшемуся и измерявшемуся с помощью дифференциального ртутного манометра. В качественном соответствии с электростатической теорией толщина прослойки h снижалась от 600—700 до 200 А при повышении концентрации электролита of 10~3 до 10"1 моль/л. Отсутствие количественного согласия может быть объяснено одновременным проявлением структурных сил. Наличие этих сил подтверждается явлением прорыва водных прослоек — их скачкообразным утончением до 120—130 А. Толщина получающихся при этом пленок не менялась при поляризации ртути и при изменении заряда поверхности, что указывает на неэлектростатическую природу их устойчивости. Заметим, что эта толщина близка к другим оценкам толщины граничных слоев воды вблизи силикатных поверхностей. При высокой концентрации электролита (более 0,1 моль/л) толщина равновесной прослойки снова растет до 500— 600 А — в этом случае уже за счет структурных эффектов другой природы, о которых говорилось выше.

Существование сил структурного отталкивания подтверждается экспериментами Пешеля с сотр. [149, 150, 153, 154, 181], выполненными для водных прослоек между хорошо полированными (высота неровностей 20—30 А) поверхностями кварцевой пластины и линзы большого радиуса кривизны. Силы структурного отталкивания были обнаружены также Израелашвили с сотр. [151, 152,182] для водных прослоек между скрещенными цилиндрами (радиусом около 1 см), покрытыми молекулярно-гладкими листочками слюды. Рабинович, Дерягин и Чураев [156] измерили силы структурного отталкивания также для водных прослоек электролита на участке контакта скрещенных под углом 90° стеклянных или кварцевых нитей с гладкой оплавленной поверхностью.

Рис. VII.31. Зависимость энергии Xt структурного отталкивания Gs от тол- q прзны h водных прослоек между кварцевыми поверхностями при 25° С

Концентрация KGI, моль/л: о —Ю-*; б—Ю-»; в — 10-*.| Кривые 1 и 2 — данные Пешеля с сотр. [154] _j для водных растворов NaCl: 10~* (i) и 10~* (2) моль/л

Развитые этими коллективами ученых методы прямых измерений ~2 дальнодействующих поверхностных сил позволили выделить структурные силы на фоне одновременно действующих в прослой- _j ке молекулярных (Пт)и электростатических (Пе) сил. Изотерма структурных сил П3 (к) рассчи- t тывается по разности между экспериментальными эначениями расклинивающего давления П (к) и теоретически рассчитанными изотермами Пт (к) и Пе (к). Структурные силы обнаруживаются обычно при h 70 ~~ 80 А, когда в силу их более резкого экспоненциального роста при утончении прослойки они начинают давать все более заметный вклад в суммарную изотерму П (к).

На рис. VII.31 точками а, б и в показаны зависимости логарифма Gs — удельной энергии структурного отталкивания плоских поверхностей кварца — от расстояния h между ними для прослоек водных растворов различной концентрации [156]. В опытах со скрещенными нитями значения Gs (к) являются непосредственно измеряемой величиной, так как в соответствии с уравнением (VII. 16) сила взаимодействия скрещенных под углом 90° нитей одинакового радиуса R0 равна F (к) — 2nR0G (к). Как видно из рис. VII.31, значения Gs спадают в области малых толщин прослоек по закону, близкому к экспоненциальному.

Используя известное соотношение между расклинивающим давлением и энергией П8 = — (dGJdk)T, можно найти константы уравнения (VI 1.13) экспоненциальной изотермы Us (к) структурных сил» Для водных прослоек о

страница 134
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186 187 188 189 190 191 192 193 194 195 196 197 198 199 200 201 202 203 204 205 206 207 208 209 210 211 212 213 214 215 216 217 218 219 220 221 222 223 224 225 226 227 228

Скачать книгу "Поверхностные силы" (3.52Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
http://www.prokatmedia.ru/ekran.html
http://taxiru.ru/nakladka-bokovaya/magnitnyie-nakladki/
кэв-п8010a
фиброз кожи и подкожной клетчатки

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(17.10.2017)