химический каталог




Поверхностные силы

Автор Б.В.Дерягин, Н.В.Чураев, В.М.Муллер

ями.

В зависимости от природы жидкости и твердой стенки соответствующие толщины граничных слоев могут быть весьма различными по порядку величин. Для полимерных жидкостей и растворов изменение вязкости может простираться на расстояние от твердой стенки до 7—8 мкм. Однако для низкомолекулярных веществ и обычных масел соответствующая толщина имеет значительно меньший порядок — около 10~5 см. Поэтому в зависимости от выбираемого объекта требования к оптическим методам измерения толщины и профиля пленки совершенно различны. В первом случае достаточно точное пред ставление о профиле скоростей и распределении вязкости вблизи стенки можно получить, фотографируя полосы равной толщины, возникающие при освещении пленки монохроматическим светом [118].

При исследовании обычных жидкостей и масел необходимо применять значительно более чувствительный и точный метод измерения толщин. В качестве такого был выбран метод, основанный на определении параметров оптической поляризации света, отраженного от

Рис. VII.18. Схема установки для измерения jr толщин пленок

различных участков пленки. Однако необходимость определения толщины различных участков пленки неравномерной толщины не позволила использовать обычные поляризационные гониометры и обычные методы наблюдения, требующие широких пучков. Сужение же падающего пучка с одновременным сохранением малости его угловой апертуры приводило к такому ослаблению интенсивности отраженного света, что точные наблюдения состояния его поляризации делались невозможными. Решение этой трудной экспериментальной задачи удалось получить путем разработки специального модуляционного метода анализа отраженного поляризованного света с использованием фотоэлектронного умножителя и осциллографа. Отсылая за подробностями к оригинальным работам [117], ограничимся только приведением схемы установки (рис. VII. 18) и процедуры измерений.

Щель АЪ освещенная ртутной лампой S, питаемой от сети переменного тока, со светофильтром W, выделяющим линию X = 579 нмт проектируется на иеследуемую пленку ТТГ с помощью фотообъектива L. Здесь А2 — апертурная диафрагма; РГ — иодхининовый поляроид; Р2 — поляроид, приводившийся во вращение вокруг отраженного пучка как оси с частотой около 1 Гц. Модулированный свет падает на фотоэлектронный умножитель, напряжение которого усиливается промежуточным усилителем RC и подается на катодный осциллограф О, который служит индикатором наличия или отсутствия модуляции фототока. КХ и К2 — две пластинки XI4.. Главные направления пластинки КГ расположены под углом 45° к плоскости падения, а пластинка К% находится в отсчетном лимбе. Две толстые (1 см) пластинки, вырезанные из исландского шпата параллельно» оптической оси, служат: DP для деполяризации лучей с целью устранения влияния чувствительности фотокатода к направлению поляризации; DK для устранения когерентности колебаний продольной (||) и поперечной (_]_) слагающих луча. При вдвинутом декогеренторе

Dk для прекращения модуляции необходимо и достаточно ориентировать лоляризатор Р1 в таком азимуте, чтобы ||- и _|_-компоненты отраженного луча были равны. После выдвижения декогерентора для прекращения вновь возникающей модуляции фототока необходимо ж достаточно ориентировать оси пластинки К2, играющей роль анализатора, в азимуте, составляющем 45° с плоскостью поляризации света, пропущенного пластинкой Кх. По найденным азимутам расчеты толщины пленки ведутся как обычно [117].

Сама процедура измерения сводилась к следующему. После того как нанесенная на поверхность стальной пластинки пленка подвергалась сдуванию воздушным потоком в течение времени ?, прибор разбирали, пластинку с пленкой ставили на микрометрические салазки и, перемещая последние, измеряли толщину пленки последовательно на различных ее участках. Затем строился график, изображавший профиль пленки. В связи с тем что пленки некоторых жидкостей и растворов оказались малоустойчивыми и обнаруживали тенденцию к распаду на капельки, была применена в этих случаях несколько иная процедура

страница 122
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186 187 188 189 190 191 192 193 194 195 196 197 198 199 200 201 202 203 204 205 206 207 208 209 210 211 212 213 214 215 216 217 218 219 220 221 222 223 224 225 226 227 228

Скачать книгу "Поверхностные силы" (3.52Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
навесная стойка под телевизор
KNSneva.ru - предлагает HP Pavilion 15-ay505ur - в розницу по опту в КНС СПБ !
рекламная конструкция на автомобиле
гастроли doro в россии в 2017

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(24.03.2017)