химический каталог




Поверхностные силы

Автор Б.В.Дерягин, Н.В.Чураев, В.М.Муллер

0% (см. рис. VI 1.4). В тонкопористых стеклах со средним

радиусом пор от 20 до 100 А средняя вязкость воды оказывается повышенной в 1,5—2 раза. Эти оценки получены путем сравнительного измерения скоростей фильтрации в них воды и неполярного СС14, вязкость которого в тонких порах принималась не измененной [18]. Близкие результаты получены и из сравнения скоростей фильтрации воды в пористых стеклах при различной температуре, менявшейся от 20 до 70° С [14, 19]. Было показано, что повышение температуры, как и в опытах с отдельными капиллярами, ведет к постепенному уменьшению отличий вязкости воды в тонких порах от объемных значений. Полагая, что при 70° С вязкость воды в порах становится объемной, можно было получить оценки ее отличий от объемных значений при 20° С.

Повышенную вязкость воды в тонких порах силикагелей дают также проведенные Товбиной [20] измерения скоростей диффузии различных молекул и ионов, а также измерения подвижности молекул воды в тех же системах методом ЯМР. Лоу [21] показал, что для глин имеет место экспоненциальный рост ньютоновской вязкости воды при уменьшении размеров пор. Этот вывод получен в результате измерений, выполненных тремя различными методами: по скорости фильтрации при различной температуре, из измерений самодиффузии молекул воды (по рассеянию нейтронов) и по скорости переноса меченных по тритию молекул воды. Методом электронного спинового резонанса обнаружено снижение подвижности молекул воды при уменьшении среднего диаметра d пор силикагелей [22]. Времена корреляции движения нейтральной спиновой метки при d = 10 нм возрастают по сравнению с объемной водой более чем в 7 раз. В наиболее тонкопористом (d = 4 нм) из исследованных силикагелей наблюдается анизотропия движения метки.

Измерения, выполненные методом ЯМР для воды в тонких порах глин, силикагелей и пористых стекол, обнаруживают определенную ориентацию молекул воды поверхностью и снижение их подвижности [20, 23—32]. Это подтверждается не только магнитным резонансом протонов, но и ядер 170, когда удается избавиться от мешающего влияния парамагнитных примесей [27]. Для указанных выше систем измерения дают оценки толщины hs граничных слоев до с10~6 см, причем боее высокие оценки относятся к более гидрофильным поверхностям [30]. Времена корреляции молекулярного' движения для граничных слоев оказываются повышенными в несколько раз по сравнению с объемной водой, что хорошо согласуется с описанными выше экспериментами, в которых был установлен рост вязкости воды в тонких слоях.

В то же время для таких поверхностей, как AgJ, метод ЯМР не обнаруживает полимолекулярных граничных слоев [33], а для по-листирольного латекса дает толщины hs менее 20 А [34]. Это лишь подтверждает большую чувствительность как толщины, так и структуры граничных слоев к состоянию и свойствам твердой поверхности.

Одним из проявлений изменений вязкости в граничных слоях является несовпадение с объемным значением средней или эффективной вязкости при т&чении жидкости через узкие поры в высоко-диопереном порошке. На этом основан наиболее простой метод обнаружения отличия вязкости граничных слоев от объемного значения. В работах Дерягина и Захаваевой [35—37] с этой целью измерялся коэффициент фильтрации водных растворов электролитов и GG14 через бентонитовую глину (с удельной поверхностью 35 м2/г) и через кварцевый песок различной дисперсности. При этом были приняты меры, чтобы на результаты не повлияло ни возможное набухание бентонитовой глины, ни усадка песка.

Сравнение экспериментальных значений коэффициентов фильтрации К± с вычисленным по формуле Козени—Кармана с использованием объемных значений вязкости К показало, что вязкость СС14 во всех случаях не отличается от объемного значения. В случае воды экспериментальный коэффициент фильтрации в 3 раза меньше вычисленного, что указывает на существенное превышение средней вязкости воды в порах над объемными значениями. Прибавление электролитов в высоких концентрациях (более 1 моль/л NaCl) устраняет это превышение, у

страница 112
< К СПИСКУ КНИГ > 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 144 145 146 147 148 149 150 151 152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162 163 164 165 166 167 168 169 170 171 172 173 174 175 176 177 178 179 180 181 182 183 184 185 186 187 188 189 190 191 192 193 194 195 196 197 198 199 200 201 202 203 204 205 206 207 208 209 210 211 212 213 214 215 216 217 218 219 220 221 222 223 224 225 226 227 228

Скачать книгу "Поверхностные силы" (3.52Mb)


[каталог]  [статьи]  [доска объявлений]  [прайс-листы]  [форум]  [обратная связь]

 

 

Реклама
компрессионное белье для спорта мужское купить
участок +по новой риге 100 км
Купить дом на Новой Риге в поселке Вымпел
телевизор напрокат

Рекомендуемые книги

Введение в химию окружающей среды.

Книга известных английских ученых раскрывает основные принципы химии окружающей среды и их действие в локальных и глобальных масштабах. Важный аспект книги заключается в раскрытии механизма действия природных геохимических процессов в разных масштабах времени и влияния на них человеческой деятельности. Показываются химический состав, происхождение и эволюция земной коры, океанов и атмосферы. Детально рассматриваются процессы выветривания и их влияние на химический состав осадочных образований, почв и поверхностных вод на континентах. Для студентов и преподавателей факультетов биологии, географии и химии университетов и преподавателей средних школ, а также для широкого круга читателей.

Химия и технология редких и рассеянных элементов.

Книга представляет собой учебное пособие по специальным курсам для студентов химико-технологических вузов. В первой части изложены основы химии и технологии лития, рубидия, цезия, бериллия, галлия, индия, таллия. Во второй части книги изложены основы химии и технологии скандия, натрия, лантана, лантаноидов, германия, титана, циркония, гафния. В третьей части книги изложены основы химии и технологии ванадия, ниобия, тантала, селена, теллура, молибдена, вольфрама, рения. Наибольшее внимание уделено свойствам соединений элементов, имеющих значение в технологии. В технологии каждого элемента описаны важнейшие области применения, характеристика рудного сырья и его обогащение, получение соединений из концентратов и отходов производства, современные методы разделения и очистки элементов. Пособие составлено по материалам, опубликованным из советской и зарубежной печати по 1972 год включительно.

 

 



Рейтинг@Mail.ru Rambler's Top100

Copyright © 2001-2012
(20.11.2017)